Publication
The high-acceptance dielectron spectrometer HADES
G. Agakichiev, C. Agodi, H. Alvarez-Pol, E. Atkin, E. Badura, A. Balanda, A. Bassi, R. Bassini, G. Bellia, D. Belver, A. V. Belyaev, M. Benovic, D. Bertini, J. Bielcik, M. Böhmer, C. Boiano, H. Bokemeyer, A. Bartolotti, J. L. Boyard, S. Brambilla, P. Braun-Munzinger, P. Cabanelas, E. Castro, V. Chepurnov, S. Chernenko, T. Christ, R. Coniglione, L. Cosentino, M. Dahlinger, H. W. Daues, M. Destefanis, J. Díaz, F. Dohrmann, R. Dressler, I. Durán, A. Dybczak, T. Eberl, W. Enghardt, L. Fabbietti, O. V. Fateev, C. Fernández, P. Finocchiaro, J. Friese, I. Fröhlich, B. Fuentes, T. Galatyuk, C. Garabatos, J. A. Garzón, B. Genolini, R. Gernhäuser, C. Gilardi, H. Gilg, M. Golubeva, D. González-Díaz, E. Grosse, F. Guber, J. Hehner, K. Heidel, T. Heinz, T. Hennino, S. Hlavac, J. Hoffmann, R. Holzmann, J. Homolka, J. Hutsch, A. P. Ierusalimov, I. Iori, A. Ivashkin, M. Jaskula, J. C. Jourdain, M. Jurkovic, B. Kämpfer, M. Kajetanowicz, K. Kanaki, T. Karavicheva, A. Kastenmüller, L. Kidon, P. Kienle, D. Kirschner, I. Koenig, W. Koenig, H. J. Körner, B. W. Kolb, U. Kopf, K. Korcyl, R. Kotte, A. Kozuch, F. Krizek, R. Krücken, W. Kühn, A. Kugler, R. Kulessa, A. Kurepin, T. Kurtukian-Nieto, S. Lang, J. S. Lange, K. Lapidus, J. Lehnert, U. Leinberger, C. Lichtblau, E. Lins, C. Lippmann, M. Lorenz, D. Magestro, L. Maier, P. Maier-Komor, C. Maiolino, A. Malarz, T. Marek, J. Markert, V. Metag, B. Michalska, J. Michel, E. Migneco, D. Mishra, E. Morinière, J. Mousa, M. Münch, C. Müntz, L. Naumann, A. Nekhaev, W. Niebur, J. Novotny, R. Novotny, W. Ott, J. Otwinowski, Y. C. Pachmayer, M. Palka, Y. Parpottas, V. Pechenov, O. Pechenova, T. Pérez Cavalcanti, M. Petri, P. Piattelli, J. Pietraszko, R. Pleskac, M. Ploskon, V. Pospísil, J. Pouthas, W. Prokopowicz, W. Przygoda, B. Ramstein, A. Reshetin, J. Ritman, G. Roche, G. Rodriguez-Prieto, K. Rosenkranz, P. Rosier, M. Roy-Stephan, A. Rustamov, J. Sabin-Fernandez, A. Sadovsky, B. Sailer, P. Salabura, C. Salz, M. Sánchez, P. Sapienza, D. Schäfer, R. M. Schicker, A. Schmah, H. Schön, W. Schön, C. Schroeder, S. Schroeder, E. Schwab, P. Senger, K. Shileev, R. S. Simon, M. Skoda, V. Smolyankin, L. Smykov, M. Sobiella, Yu. G. Sobolev, S. Spataro, B. Spruck, H. Stelzer, H. Ströbele, J. Stroth, C. Sturm, M. Sudoł, M. Suk, M. Szczybura, A. Taranenko, A. Tarantola, K. Teilab, V. Tiflov, A. Tikhonov, P. Tlusty, A. Toia, M. Traxler, R. Trebacz, A. Yu. Troyan, H. Tsertos, I. Turzo, A. Ulrich, D. Vassiliev, A. Vázquez, Y. Volkov, V. Wagner, C. Wallner, W. Walus, Y. Wang, M. Weber, J. Wieser, S. Winkler, M. Wisniowski, T. Wojcik, J. Wüstenfeld, S. Yurevich, Y. V. Zanevsky, K. Zeitelhack, A. Zentek, P. Zhou, D. Zovinec, P. Zumbruch
The European Physical Journal A, July 2009, Springer Science + Business Media
DOI: 10.1140/epja/i2009-10807-5
