Publication
Mikroelektronik 89
A. Lechner, M. Schrödl, R. Weiß, E. Brenner, P. Seifter, W. Kosta, G. Raimann, F. Furtner, D. Kirchner, H. Bühler, B. Nemsic, W. Jerono, G. Horak, R. Messaros, F. Seifert, P. Fey, A. Goßlau, A. Gottwald, W. Gáspár-Ruppert, P. Kreuzgruber, A. L. Scholtz, W. Smutny, P. Koschnick, W. Schulz, R. Schwarze, Peter W. Fröhling, Robert Casari, E. Fugger, P. Spinadel, J. Niwinski, L. Prager, E. Schauer, G. Rigler, K. Moshammer, H. Arnold, W. Pribyl, R. Röhrer, W. A. Halang, K. Barbier, F. Schiestl, C. Blind, H. Kamper, A. Krenn, H. Fleischmann, R. Schlager, L. Sturm, J. Retti, S. Rohringer, H. Schreiner, G. Fleischanderl, W. Höllinger, R. Fasching, G. Stonawski, H. Huber, J. Jaeger, H. Stadlbauer, R. Weissgärber, W. Reczek, H. Terletzki, Titu I. Bajenescu, T. Grechenig, Ch. Heinze, P. Purgathofer, J. Kohl, E. Schoitsch, G. Stöckler, F. Immitzer, W. Kasatschinskij, R. Eier, R. Neumann, F. Buschbeck, E. Riedl-Bratengeyer, D. Hornbachner, G. Güttler, C. Schmitzer, W. Klösch, A. Nedelik, E. Schöberl, W. Tritremmel, E. Schmidt, M. Gröschl, E. Benes, H. Siegmund, G. Thorn, G. F. Nowack, G. Urban, F. Kohl, H. Kuttner, A. Jachimowicz, F. Olcaytug, O. Tilado, G. Jobst, F. Pittner, E. Mann-Buxbaum, T. Schalkhammer, K. Lübke, H. Scheiber, C. Diskus, H. Thim, M. Heiss, G. Spath, H. Leopold, M. Pacher, G. Winkler, K. Schröcker, M. Holzer, H. Fürst, J. Baier, P. Löw, R. K. Pucher, M. Becker, M. Mokry, K. Leber, F. Bartelt, G. Graber, W. Eder, W. Marschik, K. Geis, J. Newald, M. Thurnher, G. Schlag, H. Garn, P. Megner, Ch. Wenner, G. Hetzendorf, G. Stehno, D. Donhoffer, H. Schuster, K. Lind, W. Nedetzky, Johann Günther, H. Pichler, F. Pavuza, U. Beszedics, G. Doblinger, W. Wokurek
January 1989, Springer Science + Business Media
DOI: 10.1007/978-3-7091-9073-9